如何根据物距选择对应角度光源？

机器视觉系统是通过分析来自物品的反射光线而非物品本身来生成图像的。

因此，至关重要的是，了解光线是如何从我们正在检测的生产元件上反射出去的。

要清楚这一点，我们必须知道物品的材质材料、尺寸、形状和表面处理情况。

同时，光源还可能影响计算机分析生成可行图像的难易程度。

高品质图像源于适当的焦距和照明。对比度差和照明不均匀的图像需要成像计算机花费更多的精力，最终会增加处理时间，并可能增加错误图像分析的次数。

一般来说，对比度高的图像最容易处理，毕竟，在机器视觉行业中，流传着这样一句话，只要打光打得好 ，视觉项目就完成了一半。

下面我们以拍摄芯片丝印为例，采用不同“角度”的环形光源，沿着镜头光轴方向在不同高度分别采集图像，大家可以观察图像的特点与变化。

 0度环形光源（使用光源型号ZDLD-R9000-35-W）

上图所示，光源高度为40mm，高度太高，光反射之后很少进入相机镜头，故视场很黑。

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

高度降低为10mm，光反射之后相比较40mm光相对较多进入相机镜头，视场亮度有所改善

 -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

 光源高度与芯片基本齐平，芯片丝印较为清晰

30度环形光源（使用光源型号LZDLD-R9030-45-W)

90mm高度，芯片丝印清晰可见。

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

60mm高度，光的反射开始进入相机镜头，开始出现过曝现象

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

 30mm高度，完全过曝，看不清丝印痕迹

-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

90度环形光源（使用光源型号ZDLD-R9090-60-W)

80mm高度，高度合适，芯片丝印清晰可见

 -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

50mm高度，光的反射角度，进入相机镜头，开始出现反光现象

 -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

30mm高度，光的 反射完全进入相机镜头，已经完全看不清丝印

 -----------------------------------------------------------------------------------------------------------------

 与芯片齐平，此时视场很黑

对于检测任务来说，适当的光源是任何成功的图像处理系统的基本要素之一。

光源系统的选择精心与否，对图像质量的好坏有决定性影响，进而影响系统效果。

简单来说，光源在一定程度上决定了检测任务能否有效进行。

为视觉系统找到合适的光源并不困难。80%的应用适合使用LED环形光、条形光或背光。在许多情况下用户可以通过轻松修改或优化光源来提高图像亮度。

点击下方蓝色文字了解更多！

山东中创科达自动化技术有限公司专注于机器视觉与3D视觉领域，为各行业提供智能、高效的视觉解决方案，是工业自动化和人工智能的可靠合作伙伴。